Thiết bị kiểm tra trực quan bốn mặt chip tự động dễ vận hành và cho phép lập mô hình nhanh; nó có thể tự động tạo mẫu cho các sản phẩm tương tự. Thiết bị này kết hợp tính năng phát hiện lỗi dựa trên deep learning với sự hỗ trợ của thuật toán truyền thống, và bạn có thể tự do thiết lập các thông số để điều khiển.

Thiết bị kiểm tra trực quan bốn mặt chip tự động hỗ trợ đánh giá lại ngoại tuyến và sửa đổi báo cáo tùy chỉnh. Nó có thể thực hiện việc chọn vật liệu không cần màng để giảm tỷ lệ hư hỏng sản phẩm, và có thể được trang bị vòi hút tùy chỉnh để giảm nguy cơ nghiền nát. Nó được trang bị nền tảng kiểm tra quang học có độ chính xác cao ở cấp độ nanomet và ống kính tùy chỉnh, và cũng hỗ trợ phát hiện đặc biệt tùy chọn đối với các đường phân tách yếu—đáp ứng đầy đủ các yêu cầu nghiêm ngặt về kiểm tra bề ngoài chip.